TLP281GBTPF (X-RAY TEST) 분석 결과
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작성자 edwinsemi
조회Hit 56회 작성일Date 25-09-03 15:39
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부품정보
부품명 TLP281GBTPF
제조사 Toshiba
제조년월차 1631
검사수량 3300
의뢰내용
1. 정품확인
검사 항목
외관검사 칩마킹, IC 다리 상태
X-ray 검사 내부칩 결선, 내부칩
Decap. 검사 내부칩 패턴
검사 결과
외관검사
의심부품과 레퍼런스 부품 모두 동일한 마킹 및 IC 다리 상태를 보임
X-ray 검사
의심 부품 LED 칩 사이즈 작음
Decap. 검사
의심 부품 photo TR 패턴 다름
판정
위조품
부품명 TLP281GBTPF
제조사 Toshiba
제조년월차 1631
검사수량 3300
의뢰내용
1. 정품확인
검사 항목
외관검사 칩마킹, IC 다리 상태
X-ray 검사 내부칩 결선, 내부칩
Decap. 검사 내부칩 패턴
검사 결과
외관검사
의심부품과 레퍼런스 부품 모두 동일한 마킹 및 IC 다리 상태를 보임
X-ray 검사
의심 부품 LED 칩 사이즈 작음
Decap. 검사
의심 부품 photo TR 패턴 다름
판정
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