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EDWINSEMI Co., Ltd.
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    QC 프로그램

    TLP281GBTPF (X-RAY TEST) 분석 결과

    페이지 정보

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    작성자 edwinsemi
    조회Hit 56회   작성일Date 25-09-03 15:39

    본문

    부품정보

    부품명 TLP281GBTPF
    제조사 Toshiba
    제조년월차 1631
    검사수량 3300

    의뢰내용

    1. 정품확인

    검사 항목

    외관검사 칩마킹, IC 다리 상태
    X-ray 검사 내부칩 결선, 내부칩
    Decap. 검사 내부칩 패턴

    검사 결과

    외관검사
    의심부품과 레퍼런스 부품 모두 동일한 마킹 및 IC 다리 상태를 보임
    X-ray 검사
    의심 부품 LED 칩 사이즈 작음
    Decap. 검사
    의심 부품 photo TR 패턴 다름
    판정
    위조품

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