MT29F4G08ABADAWP IT:D (X-RAY TEST) 분석 결과
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작성자 edwinsemi
조회Hit 38회 작성일Date 25-09-03 12:50
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본문
부품명 MT29F4G08ABADAWP IT:D
제조사 Micron
제조년월차 1720
검사수량 100
의뢰내용
1. 정품확인
검사 항목
외관검사 칩마킹, IC 다리 상태
검사 결과
외관검사
- 정품 칩 마킹
- 사용하지 않은 IC 다리 상태
판정
정품임
제조사 Micron
제조년월차 1720
검사수량 100
의뢰내용
1. 정품확인
검사 항목
외관검사 칩마킹, IC 다리 상태
검사 결과
외관검사
- 정품 칩 마킹
- 사용하지 않은 IC 다리 상태
판정
정품임
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