TDA7576B (X-RAY TEST) 분석 결과
페이지 정보
작성자 edwinsemi
조회Hit 53회 작성일Date 25-09-03 13:04
조회Hit 53회 작성일Date 25-09-03 13:04
본문
부품정보
부품명 TDA7576B
제조사 STM
제조년월차 1807
검사수량 100
의뢰내용
1. 정품확인
검사 항목
외관검사 칩마킹, IC 다리
검사 결과
외관검사
정품 칩마킹
사용하지 않은 IC 다리 상태
판정
정품
부품명 TDA7576B
제조사 STM
제조년월차 1807
검사수량 100
의뢰내용
1. 정품확인
검사 항목
외관검사 칩마킹, IC 다리
검사 결과
외관검사
정품 칩마킹
사용하지 않은 IC 다리 상태
판정
정품
- 이전글EP53A8HQI (X-RAY TEST) 분석 결과 25.09.03
- 다음글KSZ8081MNXCA-TR (X-RAY TEST) 분석 결과 25.09.03
