TLV62130RGTR 2차 (X-RAY TEST) 분석 결과
페이지 정보
작성자 edwinsemi
조회Hit 55회 작성일Date 25-09-03 13:00
조회Hit 55회 작성일Date 25-09-03 13:00
본문
부품정보
부품명 TLV62130RGTR
제조사 TI
제조년월차 1805
검사수량 3000
의뢰내용
1. 정품확인
검사 항목
외관검사 칩마킹, QFN 패드, 라벨
검사 결과
외관검사
정품 칩마킹
정품 라벨
사용하지 않은 QFN 패드 상태
판정
정품
부품명 TLV62130RGTR
제조사 TI
제조년월차 1805
검사수량 3000
의뢰내용
1. 정품확인
검사 항목
외관검사 칩마킹, QFN 패드, 라벨
검사 결과
외관검사
정품 칩마킹
정품 라벨
사용하지 않은 QFN 패드 상태
판정
정품
- 이전글RT9022GE 2차 (X-RAY TEST) 분석 결과 25.09.03
- 다음글TLC2543IDWR (X-RAY TEST) 분석 결과 25.09.03
