TLV62130RGTR (X-RAY TEST) 분석 결과
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작성자 edwinsemi
조회Hit 54회 작성일Date 25-09-03 12:54
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본문
부품명 TLV62130RGTR
제조사 TI
제조년월차 1427
검사수량 3000
의뢰내용
1. 정품확인
검사 항목
외관검사 라벨, 칩마킹, 및 QFN 패드 상태
검사 결과
외관검사
- 정품 라벨
- 정품 칩마킹
- 사용하지 않은 QFN 패드 상태
판정
정품
제조사 TI
제조년월차 1427
검사수량 3000
의뢰내용
1. 정품확인
검사 항목
외관검사 라벨, 칩마킹, 및 QFN 패드 상태
검사 결과
외관검사
- 정품 라벨
- 정품 칩마킹
- 사용하지 않은 QFN 패드 상태
판정
정품
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