LMK04806BISQE/NOPB (X-RAY TEST) 분석 결과
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작성자 edwinsemi
조회Hit 57회 작성일Date 25-09-03 13:01
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부품정보
부품명 LMK04806BISQE
제조사 TI
제조년월차 17+
검사수량 60
의뢰내용
1. 정품확인
검사 항목
외관검사 칩마킹, QFN 패드
검사 결과
외관검사
정품 칩마킹
사용하지 않은 QFN 패드 상태
판정
정품
부품명 LMK04806BISQE
제조사 TI
제조년월차 17+
검사수량 60
의뢰내용
1. 정품확인
검사 항목
외관검사 칩마킹, QFN 패드
검사 결과
외관검사
정품 칩마킹
사용하지 않은 QFN 패드 상태
판정
정품
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