MW6S004NT1 3차 (X-RAY TEST) 분석 결과
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작성자 edwinsemi
조회Hit 54회 작성일Date 25-09-03 13:10
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부품정보
부품명 MW6S004NT1
제조사 NXP
제조년월차 1748
검사수량 249
의뢰내용
1. 정품확인
검사 항목
외관검사 칩마킹, QFN 패드, 라벨
검사 결과
외관검사
정품 칩마킹
정품 라벨
사용하지 않은 QFN 패드 상태
판정
정품임
부품명 MW6S004NT1
제조사 NXP
제조년월차 1748
검사수량 249
의뢰내용
1. 정품확인
검사 항목
외관검사 칩마킹, QFN 패드, 라벨
검사 결과
외관검사
정품 칩마킹
정품 라벨
사용하지 않은 QFN 패드 상태
판정
정품임
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