K4S561632H-UC75 (X-RAY TEST) 분석 결과
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작성자 edwinsemi
조회Hit 51회 작성일Date 25-09-03 15:49
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본문
부품정보
부품명 K4S561632H-UC75
제조사 Samsung
제조년월차 1022
검사수량 720
의뢰내용
1. 진위확인
검사 항목
외관검사 칩마킹, 기판, IC 다리
검사 결과
외관검사
블랙토핑 검출됨
재도금된 IC 다리
IC 다리 손상
판정
위조품
부품명 K4S561632H-UC75
제조사 Samsung
제조년월차 1022
검사수량 720
의뢰내용
1. 진위확인
검사 항목
외관검사 칩마킹, 기판, IC 다리
검사 결과
외관검사
블랙토핑 검출됨
재도금된 IC 다리
IC 다리 손상
판정
위조품
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